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美芯晟推出車規級三通道線性照明恒流芯片MTQ6013

  • 發布日期2024-06-03

  • 瀏覽量8876次(ci)

隨著汽車照明技術的發展,車燈從單一照明工具向智能化、交互式和安全性發展,成為汽車照明行業發展的新趨勢新需求。美芯晟最新推出支持PWM調光和Fault功能的車規級三通道線性照明恒流芯片MTQ6013,主要面對汽車日行燈、尾燈、轉向燈、剎車燈、前格柵燈、LOGO燈等應用。4255f0d1867a36f30124181fdb1e07f7.jpeg

MTQ6013是(shi)一(yi)款單(dan)顆車規級三通道線性照明恒(heng)流(liu)芯片,單(dan)通道輸(shu)出(chu)電流(liu)可達160mA,三通道并聯(lian)時可提供(gong)480mA的組合電流(liu)能力,滿(man)足AEC-Q100標準、支持模擬調光和PWM調光、具有針對單(dan)顆LED短路的故障報錯功能、開(kai)路/短路和熱關(guan)斷故障的報錯功能。


產品特性

  • 獨立(li)三通道線性電(dian)流驅動器:每通道電(dian)流高達160mA,并聯電(dian)流高達480mA

  • 寬輸(shu)入電壓范圍:5V~40V

  • 超低關斷電流:<10uA

  • 電流精(jing)度: 通道(dao)間電流精(jing)度±1.5%,片(pian)間電流精(jing)度±2.5%

  • 低壓降電壓:

        最大壓降(jiang)400mV/通(tong)道@IOUT=60mA

           最大壓降900mV/通道(dao)@IOUT=150mA

  • 單通道獨立的PWM調(diao)光

  • 輸出電流上升/下降(jiang)沿控制技術,無(wu)EMI問題

  • 芯片可適應緩慢輸入電壓(ya)dV/dt(0.5V/min)

  • 具備完善保(bao)護與故障報錯(cuo)功能(neng)

  • 符合AEC-Q100認證


技術亮點

  • 完善保護與故障報錯功能

MTQ6013提(ti)供完整(zheng)的(de)(de)(de)診(zhen)斷功(gong)能以滿(man)足汽車級需求(qiu),擁有單顆LED短路(lu)故(gu)障(zhang)(zhang)報錯(cuo)的(de)(de)(de)FAULT_S引腳和(he)用(yong)(yong)于報告開路(lu)、短路(lu)和(he)熱關斷故(gu)障(zhang)(zhang)的(de)(de)(de)FAULT引腳,雙(shuang)故(gu)障(zhang)(zhang)引腳可滿(man)足各種要(yao)求(qiu)和(he)應用(yong)(yong)條件(jian)的(de)(de)(de)故(gu)障(zhang)(zhang)診(zhen)斷需求(qiu),確保系(xi)統(tong)可靠穩定地工作。

  • 過溫(wen)管理功(gong)能

當芯(xin)片結(jie)溫達到(dao)過溫調(diao)節(jie)閾值TOTR 時,輸(shu)(shu)出電(dian)流(liu)以2%/°C*ISET 的速率下降(jiang),降(jiang)為50%*ISET 后,輸(shu)(shu)出電(dian)流(liu)維持不變。如果芯(xin)片的結(jie)溫繼續(xu)升(sheng)高到(dao)TSD,停止輸(shu)(shu)出直至(zhi)結(jie)溫降(jiang)至(zhi)TSD-TSD_HYS (TYP)。

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    輸(shu)出開路檢測功能

當通道兩端的電壓(VIN–VIOUT<VOLP)時,觸發開路檢測功能。此時,若PWM占空比等于100%且開路持續時間大于2ms,或一個PWM高電平的時間超過2ms,或在PWM調光模式下連續7個PWM周期并且FAULT引腳懸空,芯片拉低FAULT引腳,保持故障通道的開路狀態并關閉其他通道輸出。當FAULT引腳由低變高后,非故障通道恢復正常狀態。當開路故障解除后,所有通道恢復正常。另外,如果單個IOUT引腳電壓接近或大于VIN,芯片也(ye)會觸(chu)發開路(lu)保護。


    輸出短路檢測功能


芯片通(tong)過(guo)監(jian)測(ce)IOUT引腳電壓(ya)或VSNS引腳電壓(ya)實現短路(lu)檢測(ce)。以下(xia)兩種情況,芯片會觸發短路(lu)保護功能:

1、VIN>5V且VIOUT<VSCP,FAULT引(yin)腳拉低(di)

2、VIN>9V,對應VSNS引腳電壓小于VVSNS, FAULT_S引(yin)腳拉低


    FAULT診斷

FAULT_S是用于單顆LED短路(lu)故障(zhang)(zhang)的故障(zhang)(zhang)檢(jian)測(ce),FAULT用于一般故障(zhang)(zhang),即短路(lu)、開路(lu)和過(guo)溫反饋(kui)。雙故障(zhang)(zhang)引腳可以滿足各種要求(qiu)和應用條件的故障(zhang)(zhang)診斷需求(qiu)。


FAULT引腳可連接到MCU用(yong)來進行(xing)故障報(bao)告。兩個(ge)報(bao)錯(cuo)引腳內(nei)部均與漏極開路晶(jing)體管(guan)相連并弱上拉至內(nei)部基準電壓。在(zai)無MCU應(ying)用時,可(ke)以將多(duo)(duo)達15個芯(xin)片的FAULT和FAULT_S引腳連接在(zai)一(yi)(yi)起。當(dang)一(yi)(yi)個或多(duo)(duo)個設(she)備出現錯(cuo)誤(wu)時,相應(ying)的故(gu)障引腳及(ji)連接的故(gu)障總線(xian)電平拉低并(bing)關閉(bi)所有芯(xin)片輸出。


■ 輸出電流上升、下降無過沖,  卓越EMI特性

EMC測試結果

*本文提及的測(ce)試結果為實(shi)驗室(shi)條件下得出,實(shi)際產品視應(ying)用環境和批次差(cha)異(yi),可能會存在不同(tong),美芯晟科(ke)技(ji)保留最(zui)終(zhong)解釋權。